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聚焦離子束分析（FIB）
1、聚焦離子束技術（FIB）聚焦離子束技術（Focused Ion beam，F(xiàn)IB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺...
X射線光電子能譜分析（XPS）
1. X射線光電子能譜技術X射線光電子能譜技術（X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱X...
動態(tài)二次離子質(zhì)譜分析（D-SIMS）
1. 飛行時間二次離子質(zhì)譜技術二次離子質(zhì)譜技術（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrome...
飛行時間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）
1. 飛行時間二次離子質(zhì)譜技術飛行時間二次離子質(zhì)譜技術（Time of Flight Secondary Ion Mas...
俄歇電子能譜分析（AES）
1.俄歇電子能譜技術（AES）俄歇電子能譜技術（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是...
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